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走査型電子顕微鏡

走査型電子顕微鏡とは、高真空装置内で、極めて細く絞った電子ビームで試料表面を走査し、試料からの二次反射あるいは透過電子線の強弱を走査電子ビームと同期に走査している観察用ブラウン管のケイ光の強弱に変換して観察する顕微鏡です。SEMと略しています。

走査電子顕微鏡は波長の短い電子線を利用して、数ナノメートル程度の構造まで観察できます。医学、生物学の分野や金属、半導体など様々な分野で活用されて、その用途を広げています。

走査型電子顕微鏡は高精度で使用範囲が広いため、その製造に向けて研究開発に力を入れている企業が多くなりました。世界でトップレベルに入る企業はアメリカ、日本、ドイツの企業が多くて、その中で日本の日立、アメリカのFEI、そしてドイツのサイス企業が製造した走査型電子顕微鏡は最も品質が高いです。一方、中国はまだ輸入に頼っており、走査型電子顕微鏡の領域において先進国と比べ物になりません。

輸入してきた走型査電子顕微鏡のおかげで、中国は走査型電子顕微鏡の研究開発に努力を重ねて、電子顕微鏡業界は目覚ましい発展を遂げて、良い品質の製品を提供できるようになりました。

走査型電子顕微鏡に関する技術がますますグレートアップし、市場規模も日ごとに拡大しています。中国の企業にとって、市場のニーズに応じて製品を製造できるかどうかは成功のカギとなります。

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資料引用元:https://kotobank.jp/word/%E8%B5%B0%E6%9F%BB%E5%9E%8B%E9%9B%BB%E5%AD%90%E9%A1%95%E5%BE%AE%E9%8F%A1-89357

https://www.jeol.co.jp/science/sem.html

https://instrument.m.ofweek.com/2018-03/ART-8320088-8420-30210738.html

筆者:孔德珩

2020年1月31日

深センコネファクトリー:https://szcfactory.com